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影响涡流涂层测厚仪测量精度的因素

在国家标准GB/T4957-85《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法》(等效采用国际标准ISO 2360-1982)中,对涡流测厚仪的标准、操作程序和影响测量精度的因素及其注意事项作了详细地阐 述。其中有关影响测量精度因素的条款,应视作涡流涂镀层测厚仪开发应用必须遵循的指导性文件,这些影响测量精度的主要因素包括:
1、覆盖层厚度大于25μm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比。
2、基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关。
3、任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响。
4、涡流测厚仪对试样测定存在边缘效应,即对靠近试样边缘或内转角处的测量是不可靠的。
5、试样的曲率对测量有影响,这种影响将随着曲率半径的减小明显地增大。
6、基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量精 度,粗糙程度增加,影响增大。
7、涡流测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此测量前应清除测头和覆盖层表面的污物,测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触。

影响涡流涂层测厚仪测量精度的因素


在国家标准GB/T4957-85《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法》(等效采用国际标准ISO 2360-1982)中,对涡流测厚仪的标准、操作程序和影响测量精度的因素及其注意事项作了详细地阐 述。其中有关影响测量精度因素的条款,应视作涡流涂镀层测厚仪开发应用必须遵循的指导性文件,这些影响测量精度的主要因素包括:
1、覆盖层厚度大于25μm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比。
2、基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关。
3、任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响。
4、涡流测厚仪对试样测定存在边缘效应,即对靠近试样边缘或内转角处的测量是不可靠的。
5、试样的曲率对测量有影响,这种影响将随着曲率半径的减小明显地增大。
6、基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量精 度,粗糙程度增加,影响增大。
7、涡流测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此测量前应清除测头和覆盖层表面的污物,测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触。


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